解决方案
2025-11-04
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半导体 IC 封测石墨治具设计案例解析
以一个 IC 封装测试石墨治具为例,讲清从需求、三维设计、结构分层到加工检测的完整设计思路。
以一个 IC 封装测试石墨治具为例,讲清从需求、三维设计、结构分层到加工检测的完整设计思路。
某半导体封测客户需要一款多腔 IC 测试治具:一次定位多颗芯片、精准对位、耐高温、低污染。
打样 → CMM 首件全尺寸 → 批量。爆炸装配图见研发设计页。
把工况 / 芯片尺寸发我们,可做类似定制。
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